日本Union DZ2-IR紅外觀察測量 顯微鏡 半導體封裝

DZ2-IR日本Union紅外觀察測量顯微鏡半導體封裝

主題：日本Union紅外觀察測量顯微鏡

型號:DZ2-IR

品牌：日本UNION

應用于半導體各種封裝內部結構的測量

特點：

1.650~1200nm波長光學系統從可見光到近紅外光范圍。

2.無級變倍放大倍率（1.5X~15X）或（5X~50X）。不需要更換物鏡，同時具備高的工作距離。 3.配置Uni-Measure測量軟件，進行大尺寸移動測量，或微觀的小尺寸測量。

4.配備表面和透射的紅外光照明，能很好應用于半導體各種封裝內部結構的

觀察，如BGA，CSP，COF和晶圓級封裝等。